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Gerry Partida谈目前对微导通孔失效担忧

在IPC线上高可靠性和微导通孔峰会上,Summit Interconnect公司的工程主管Gerry Partida发表了《目前对微通孔失效的担忧》演讲,详细介绍了目前微导通孔可靠性测试所 ...查看更多

Gerry Partida谈 目前对微导通孔失效担忧

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堆叠微导通孔、弱界面的可靠性研究

Marc Carter在IPC高可靠性论坛上做了关于《堆叠微导通孔/弱界面可靠性研究》的演讲。本文总结了Marc的演讲文稿,列出了其中的一些重点,以方便读者更清晰地了解演讲内容。 Marc Ca ...查看更多

阴影里潜伏着什么?

我认为在电子行业有两个术语需要广泛使用。第一个是“违反最小电气间隙(violates minimum electrical clearance)”的缩写VMEC,很明显,也很简 ...查看更多

PCB测试:为什么说稳健性不等同于可靠性

Bob Neves谈论了他在可靠性测试中观察到一种现象,即现在做的测试和实际发生的情况之间存在脱节, 以及为什么如今的所谓可靠性测试,绝大部分都应该归为稳健性测试。   N ...查看更多

PCB测试:为什么说稳健性不等同于可靠性

Bob Neves谈论了他在可靠性测试中观察到一种现象,即现在做的测试和实际发生的情况之间存在脱节, 以及为什么如今的所谓可靠性测试,绝大部分都应该归为稳健性测试。   N ...查看更多

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