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【好书分享】工艺验证必读书目,详解SIR、CAF以及离子污染物

十月 02, 2020 | I-Connect007
【好书分享】工艺验证必读书目,详解SIR、CAF以及离子污染物

最近我们的新书被麦可罗泰克实验室推荐,感谢其在图书的出版过程大众给予的专业支持。麦可罗泰克作为专业线路板及电子材料的UL、CQC认证和检验、检测第三方机构,也是特斯拉、德尔福汽车、德国大陆和联合汽车等汽车企业认可的实验室。在接受众多客户委托的过程中,深感市场对电子产品安全、舒适、智能、环保等性能提出了更高的要求。他们在测试分析中发现,印刷电路组装商的相关从业人员在如何进行工艺验证方面有不少困扰。为此,麦可罗泰克特向行业推荐由I-Connect007出版的《印制电路组装商指南》系列书籍,尤其是Graham K. Naisbitt先生撰写的《印制电路组装商指南:工艺验证》一书,此书现已发布!开放免费下载!

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本书介绍

鉴于目前智能基础设施、联网汽车、电动汽车的发展趋势及它们对无所不在的的充电桩的需求,加上工业互联网及其他行业的发展, 可以说,电路总成比以往更广泛地用在潮湿的 且可能具有腐蚀性的环境中,因此,它们更可能由于电化学迁移(ECM)产生树枝状枝晶而发生故障。另一方面,由于会影响电子层面上的局部湿度,具有自加热功能的电子设备的工作方式、外壳设计概念以及较大的热质量所产生的影响(例如在汽车应用中)都已经确定,并且已采取对策,以降低其ECM风险。书中介绍污染测试、ECM迁移等知识,并详解SIR和CAF测试方法,以及离子污染测试相关的各种主题。

作者简介

Graham K. Naisbitt

Graham 是Gen3的董事长兼首席执行官,也是IPC 5-30清洁和涂覆委员会的现任副主席,该委员会涵盖15个测试标准工作组,并且是IEC TC91的维护负责人,负责 SIR、CAF、离子污染测试和可焊性等部分。

章节内容简介

章节1 

污染测试的历史

第1章介绍了污染测试、ECM迁移和可靠性、清洁度以及工艺控制、表征和验证。

章节2 

使用SIR和CAF测试方法进行绝缘电阻测试

第2章详细介绍了SIR和CAF测试,包括它们的历史和测试结果示例。

章节3 

在电子电路组装中达到六西格玛标准的离子污染工艺控制

第3章涵盖了与工艺离子污染测试相关的各种主题,例如验证、参数和优化。

专家的话
这本书深入浅出地介绍了对电子电路进行清洁并去除污染物的重要性。考虑到在当今互联世界中高可靠性电子的重要性日益提高,这本书的内容非常及时并且重要。

——TSI 技术总监 Mike Cummings

对于想要以负责任的方式和最先进的材料以及工艺鉴定技术来应对电子器件的耐湿性和电化学可靠性的问题的人,这本书是必读书籍。

——Robert Bosch GmbH汽车电子高级专家和六西格玛黑带大师Lothar Henneken博士

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标签:
#工艺验证  #离子污染物  #SIR  #CAF 

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